Analyse microstructurale des couches minces

du 29 au 30 Mai 2012 à l’IEM, MONTPELLIER

La Mission des Ressources et Compétences Technologiques et la formation permanente de la délégation Midi-Pyrénées du CNRS ont organisé cet atelier à l’IEM de Montpellier les 29 et 30 Mai 2012.

Le programme de la formation:

Le lecteur peut télécharger les présentations suivantes :

Microscopie à force atomique – Eric FINOT, ICB, Dijon

Analyse de porosité par réflectométrie X – Arie VAN DER LEE, IEM, Montpellier

SIMS et ToF-SIMS : Principes et applications – Yves DE PUYDT, BIOPHY Research, Fuveau

Caractérisation d’empilements de couches minces par ellipsométrie spectroscopique – Jean-Philippe PIEL

Porosimétrie de couches minces par ellipsométrie et microbalance à quartz – Vincent ROUESSAC, IEM, Montpellier