La Mission des Ressources et Compétences Technologiques et la formation permanente de la délégation Midi-Pyrénées du CNRS ont organisé cet atelier à l’IEM de Montpellier les 29 et 30 Mai 2012.
Le programme de la formation:
Le lecteur peut télécharger les présentations suivantes :
Microscopie à force atomique – Eric FINOT, ICB, Dijon
Analyse de porosité par réflectométrie X – Arie VAN DER LEE, IEM, Montpellier
SIMS et ToF-SIMS : Principes et applications – Yves DE PUYDT, BIOPHY Research, Fuveau
Caractérisation d’empilements de couches minces par ellipsométrie spectroscopique – Jean-Philippe PIEL
Porosimétrie de couches minces par ellipsométrie et microbalance à quartz – Vincent ROUESSAC, IEM, Montpellier
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