du 29 au 30 Mai 2012 à l’IEM, MONTPELLIER

La Mission des Ressources et Compétences Technologiques et la formation permanente de la délégation Midi-Pyrénées du CNRS ont organisé cet atelier à l’IEM de Montpellier les 29 et 30 Mai 2012.

Le programme de la formation:

Le lecteur peut télécharger les présentations suivantes :

Microscopie à force atomique – Eric FINOT, ICB, Dijon

Analyse de porosité par réflectométrie X – Arie VAN DER LEE, IEM, Montpellier

SIMS et ToF-SIMS : Principes et applications – Yves DE PUYDT, BIOPHY Research, Fuveau

Caractérisation d’empilements de couches minces par ellipsométrie spectroscopique – Jean-Philippe PIEL

Porosimétrie de couches minces par ellipsométrie et microbalance à quartz – Vincent ROUESSAC, IEM, Montpellier

Analyse microstructurale des couches minces

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du 10 au 14 Octobre 2011, AUTRANS L’objectif de cette formation, conjointe aux réseaux  Calcul et Plasmas Froids, mais ouverte à toutes les communautés scientifiques, était de donner aux personnels techniques et […]

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du 28 au 30 Septembre 2011 au LPSC, GRENOBLE L’objectif visé était de diffuser les connaissances liées aux installations sous vides utilisées par les chercheurs du réseau Plasmas Froids (RPF) […]

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